1 引言
在當今高速數字電路中，時鐘頻率越來越高，敏感度越來越高，系統功能模塊越來越復雜，電源的種類也越來越多，這就對電路系統的電磁兼容性提出了更高的要求。否則的話，器件的高速切換所帶來的高頻噪聲不僅能影響系統的正常工作，也會產生極大的電磁泄漏。而去耦電容可防止高頻噪聲進入電源分配系統，同時也能為器件提供穩定的電壓。因此本文對電容在高頻時引入的等效串聯電感和等效串聯電阻進行分析,針對電容在高頻時的諧振特性，對高速電路中的電容提出了優化配置,具有一定的工程應用價值。 2 高頻下電容的特性分析
2.1 高頻電容的等效電路
在高頻f下，電容已非理想，而是引入了其引腳上的等效串聯電感(L)和等效串聯電阻(R)。其等效電路圖如圖1:
此時電容的阻抗為: 
圖1 等效電路圖
2.2 高頻電容中的阻抗效應及其計算
在高頻情況下，因電容引入了串聯電感和電阻等因素，其充放電的過程也異于理想電容。
(1) 高頻下電容充電過程分析
圖2為高頻下等效電容的連接電路。圖3是等效電容兩端電壓的輸出波形。
圖2 高頻等效電容的連接電路 圖3 等效電容兩端電壓的輸出波形
(2) 下面對圖3的電容的等效串聯電感和電阻所帶來的影響進行分析和計算:
一開始，電壓波形出現一個尖峰。這是由高頻下電容的等效串聯電感所引起的。電感值可從電壓波形所給出的信息求出: RS:源端負載;A:波形的尖峰面積;△V:等效電容的開路電壓。尖峰過后是一段較為平坦的電壓。這是由電容的等效串聯電阻所引起的。電阻值也可從波形中直接求出: V0:尖峰后的平坦電壓值。
電壓經過一段平坦開始上升。這是電容開始充電的結果。同樣，電容值也可從圖中求出: dV/dt:充電速率，即波形的上升沿速率
(3) 高頻下電容的放電過程分析
在圖2中，在t0時短路電源，使電容開始放電。設電容初始電壓為V0，得到高頻下電容放電的波形如圖4: 
圖4 高頻下電容放電波形圖
從圖4中可以看出，電容在放電時產生了電壓振蕩現象。這是由于高頻下電容所產生的串聯電感的影響。要減少電壓的振蕩，必須增大電容電壓的衰減速度、減少過沖幅度。在上圖中，電容電壓的衰減總的來說呈指數形式下降，如圖中的虛線所示，大小為V= 。電容中產生的過沖的幅值 ，其中 。由以上公式可見，要減少電壓的振蕩，必須減少電感值，這也證明了高頻下電容的串聯電感對電容所帶來的影響。
2.3 電容的諧振分析
在高頻下，由于電容的串聯電感和電容發生諧振，諧振頻率 。此時的電容阻抗最小，等于電容的等效串聯電阻。在諧振頻率之下，高頻電容呈現容性，高于此頻率則呈現感性。由此可見，實際的高頻下的去耦電容就是一個帶阻濾波器。
可在圖5的史密斯圓圖中對電容的高頻諧振特性進行分析。
圖5 史密斯圓圖
設高頻下電容的等效阻抗為Z=y+jx，史密斯圓圖公式如下: 其中y為等效串聯電阻引入的阻抗實部; 其中x為等效串聯電感和電容所形成的阻抗虛部。
在史密斯圓圖中，下半圓中曲線呈現容性，上半圓中則呈現感性，橫軸表示發生諧振。如在圖中諧振頻率為f0的曲線，容性時x=-1/wc，代入以上公式中，我們可以看出，隨著頻率增大，x隨之增大，直到達到諧振頻率f0，此時阻抗最小。隨著頻率繼續增大，電容則呈現感性，阻抗逐漸變大。
在高頻下，由于諧振的出現，電容不再是理想的。電容的使用效用受到了限制。因此我們在進行高頻電路設計時，必須對去耦電容的諧振特性進行分析，然后再進行正確的電容選擇和配置。
3 去耦電容的配置
對高頻下去耦電容的選擇，通常可用插入損耗來衡量: 。如果插損是零點幾dB是可以接受的。如IL=0.1dB，P前=1.023P后。
對去耦電容，我們要求引腳電感要盡可能小，因此要盡量采用表面封裝的電容，如SMT1206。我們也可采用SMT0805，因為封裝尺寸越小其引腳電感越小。
同樣，我們也可以根據信號的頻段進行電容的容值進行選擇配置。
對低頻去耦時，我們可選用大的電容(如電解電容，10μF)，此電容的諧振頻率較低;對高頻去耦時，則選用諧振頻率高的小電容;如要求去耦的頻段較大，我們可用容值相差100倍的一個小電容和一個大電容進行并聯，這樣可拓寬低阻抗頻帶。
當信號頻率小于50MHz時，我們使用傳統的去耦電容(0.01μF或0.1μF)是有效的。
當頻率在50-500MHz之間時，此時我們選取原則是:如對較窄頻帶進行去耦，首先盡量選擇大小相等的n個小電容，這樣諧振時阻抗只有單個電容的1/n。不能用大小不同的小電容，因為這容易發生反共振，使去耦頻帶中的阻抗反而變高。一般來說，這種情況下引入的噪聲要相對提高25dB。
當頻率大于500MHz時，我們引入了電源層和地層。由于兩者沒有引腳，高頻下所引入的等效電感和電阻甚小，而且兩者之間的電容很小，公式如下: (pF) :電介質的相對電導率;S:層間相重疊的面積(m2);
d:層間距離(m)
由于電源層和地層之間面積較大，間距較小，因此容值較小。所以兩層間的諧振頻率較高。 4 去耦電容的放置
去耦電容在高頻電路設計中有著重要的作用，它的放置位置也很重要。因為在電源向負載短時間供電中，電容中的存儲電荷可防止電壓下降, 如電容放置位置不恰當可使線阻抗過大，影響供電。所以必須減少線電感。同時電容在器件的高速切換時可濾除高頻噪聲，這要求其諧振頻率足夠高。有諧振頻率公式就知道，要提高諧振頻率，必須減少電感。去耦電容和芯片之間的電感可由以下公式求出: l:電容與芯片間的線長;r:線半徑;d:電源線與地之間的距離
去耦電容放置如圖6所示。
由以上公式可知，要減少電感L，則必須減少l和d，即減少去耦電容和芯片所形成的環路面積，也就是要求電容與芯片盡可能靠近芯片器件。 
圖6 去耦電路 5 去耦電容的選擇與計算
對于去耦電容的選取，我們必須有針對性地進行計算并選定其容值大小及電容的數目。以下是不同情況下去耦電容容值的計算方法。
5.1 判定板級是否需要去耦電容及其容值確定的步驟如下:
(1) 計算所有的切換器件同時開關獲得電流的最大階躍變化(△I);
(2) 計算邏輯電路能容忍的電源供電噪聲的最大值(△V);
(3) 計算能容忍的最大阻抗是Xmax＝(△V)/(△I);
(4) 結合最大的可允許阻抗Xmax，計算電源線的電感Lps,找出電源線適合的頻率。Lps=tpd*Z0，在帶狀線中后兩者的參數是固定的。Fps=(Xmax)/(2πLpsw);
(5) 在Fps頻率下，不需要去耦電容。在Fps頻率以上，我們需要一個去耦電容來解決問題。找出在頻率Fps點的阻抗為Xmax的電容值。采用的去耦電容的容值至少應該是:C＝1/(2πFpsXmax)。
5.2 對器件芯片所需小電容的數目和容值進行確定的步驟如下:
(1) 根據數字轉折頻率Fknee，計算在如此高的頻率下的電感容限。
Fknee=0.5/Tr
Ltol=Xmax/(2πFknee )=(Xmax Tr)/π
(2) 根據已知去耦電容的串聯電感Lc計算達到電感容限所需的去耦電容數目。
N=Lc/Ltol
(3) 在頻率Fps以下，電容陣列總的阻抗必須小于Xmax，由此計算總陣列電容。
Fps＝Xmax /(2πLc)
Cps＝1/(2πFpsXmax)
(4) 計算陣列中每個元件的電容。
C＝Cps/N 6 結束語
現今高速數字電路系統頻率越來越高，對板級內的電磁兼容性要求也越來越嚴格。而作為解決此問題的關鍵器件電容也在不斷的更新換代。因此對高頻下電容的研究是必要的而且也需要不斷的進行鉆研。 | 
